Fehlersuche in der ICP OES

Sie nutzen die ICP Emissionsspektrometrie und

• Sie sind mit den Ergebnissen nicht zufrieden?
  
• das Plasma ist nicht stabil oder geht des Öfteren aus?
  
• die Kurz- oder Langzeitstabilität ist unbefriedigend?
  
• Sie möchten an eine systematische Herangehensweise zur Fehlersuche herangeführt werden?
  
• Sie wollen wissen, wie Sie Ihre Arbeitsweise umstellen können damit die Analyse reibungsloser läuft?

In diesem Kurs werden die Grundlagen der ICP OES im Hinblick auf Fehlermöglichkeiten aufgefrischt und ergänzt. Anhand von typischen Beispielen, die nach Absprache auch von den Kursteilnehmern kommen können, wird die Herangehensweise zur Fehlersuche und -behebung gemeinsam erarbeitet.

Falls Sie ein Fallbeispiel beitragen möchten, wenden Sie sich bitte spätestens vier Wochen vor Kursbeginn an den Kursleiter. Im Vorfeld des Kurses werden Sie dann gemeinsam die Fehlersuche und -behebung durchführen. Diese Herangehensweise wird dann im Kurs Schritt für Schritt vorgestellt.

Inhalt:

• Was beeinflusst die Stabilität des Plasmas?
  
• Einfluss der Materialien des Probeneinführungssystems
  
• spektrale und nicht-spektrale Störungen
  
• Wie kann man durch geschickte Signalauswertung und Untergrundkorrektur das Ergebnis "retten"?
  
• Einfluss der Kalibrierung
  
• Wie wirken sich Umwelteinflüsse wie Temperatur oder Luftdruck aus?
  
• Schlauchpumpe und Drift, Präzision und Matrixeinflüsse
  
• Optik und Detektor
  
• Gerätejustage
  
• chemische Einflüsse
  
• "schwierige" Proben: sehr hohe Salzkonzentrationen, Partikel in der Lösung, organische Anteile
  
• Fehler bei der Korrekturtechniken (interner Standard, Inter-Element-Korrektur, ...)

» Programmdetails und Anmeldung

• ICP OES Grundlagen (09. - 10.03.2021 Stein am Rhein [CH])
• ICP OES Methodenentwicklung (17.03.2021 Stein am Rhein [CH])
• Multivariate Auswertetechniken in der ICP OES (19.03.2021 Stein am Rhein [CH])
• ICP-MS Grundlagen (17. - 18.06.2021 Mannheim / online)
• ICP OES Grundlagen (26. - 27.10.2021 Stein am Rhein [CH])