Neuartiges Rasterkraftmikroskop kann chemische Identität einzelner Atome bestimmen

Herkömmliche Rasterkraftmikroskope können Oberflächen mit atomarer Auflösung abtasten, allerdings nicht die verschiedenen Arten der abgebildeten Atome voneinander unterscheiden. Forscher der Osaka-Universität in Japan haben sich zusammen mit Kollegen aus Tschechien und Spanien nun dieses Defizits angenommen und ein Rasterkraftmikroskop entwickelt, das einen chemischen Fingerabdruck einzelner Atome abnehmen kann. Die neue Methode könnte zahlreiche Anwendungen in der Materialanalyse finden.

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Quelle: wissenschaft.de