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Das Online-Labormagazin
04.08.2021

01.02.2013

Infrarot-Mikroskopie - Fehlstellenanalyse an einer Leiterplatte

Marion Egelkraut-Holtus , Shimadzu Europa GmbH



Mit der ATR-Mikroskopie lässt sich eine Materialprüfung zerstörungsfrei durchführen. ATR bedeutet abgeschwächte Totalreflexion (Attenuated Total Reflection). Die Messung identifiziert nicht nur das Material, sondern auch dessen physikalische Gegebenheiten.

Was verursacht zum Beispiel Fehlstellen bei Leiterplatten, etwa Kavernen, Blasen oder Fehlen einer Substanz? Das ist wichtig zu wissen für die Herstellung der Platte oder ihren Gebrauch. Wie kann man die Störung identifizieren? - Die Infrarotspektroskopie gibt hierauf Antworten.

Für die hier diskutierten Messergebnisse wurde das FTIR-Spektrophotometer IRPrestige-21 eingesetzt kombiniert mit dem Infrarot-Mikroskop AIM-8800 und dem ATR-Objektiv ATR-8800M.


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