Bruker Optik GmbH

LUMOS: FT-IR-Mikroskopie mit höchstem Bedienkomfort



LUMOS FT-IR-MikroskopDas LUMOS ist ein eigenständiges, kompaktes FT-IR-Mikroskop, in dem das FT-IR-Spektrometer integriert ist. Alle beweglichen Komponenten sind motorisiert und elektronisch kodiert. Dies ermöglicht die vollständig automatisierte Durchführung der IR-Messung in allen Modi - sogar in ATR (ATR=Abgeschwächte Totalreflexion), der universellsten und meist verwendeten Messtechnik.

Ein hoher Arbeitsabstand und der freie Zugang zum Probentisch gewährleisten eine einfache Positionierung der Probe. Das mikroskopische Bild des LUMOS zeichnet sich durch ein großes Sichtfeld und eine hohe visuelle Qualität aus. Somit gewinnt der Anwender einen schnellen Überblick über die Probe und kann die relevanten Bereiche für die IR-Analyse leicht auffinden.

Die intuitive Software führt den Anwender Schritt für Schritt durch die mikroskopische Messung. Dabei werden immer nur die Optionen präsentiert, die für den nächsten Schritt sinnvoll sind.

Die vollständige Automatisierung und die eindeutige Nutzerführung machen die Bedienung des LUMOS sehr komfortabel. Aufgrund der hohen Empfindlichkeit ist das LUMOS auch für sehr anspruchsvolle Anwendungen geeignet.

Merkmale des LUMOS

  • Eigenständiges FT-IR-Mikroskop mit Vollautomatisierung
  • Höchster Komfort in der Bedienung
  • Motorisierter ATR-Kristall mit integrierter Druckkontrolle
  • Komplett automatisierte Messung in den Modi Transmission, Reflexion und ATR
  • Großer Arbeitsabstand; viel Raum zwischen Probentisch und Objektiv
  • Hohe Qualität der visuellen und IR-spektroskopischen Ergebnisse
  • Niedrige Betriebskosten durch langlebige Qualitätskomponenten

Anwendungen

Das LUMOS erreicht eine Ortsauflösung von 2-5 µm. Somit ermöglicht es die Bestimmung der chemischen Identität sehr kleiner Proben wie Partikel und Fasern. Auch lassen sich inhomogene Proben örtlich aufgelöst analysieren, sei es zur Bestimmung einer ungewollten Verunreinigung bei der Fehleranalyse oder zur Charakterisierung der Komponenten-Verteilung in einem Kunststoffteil. Durch Nutzung der Mapping-Technik können chemische Bilder der Probe gemessen werden, die beispielsweise die Homogenität einer Oberflächenbeschichtung aufzeigen.

Typische Fragestellungen und Proben

Identifikation von Partikeln

  • Analyse von Defekten und Kontaminationen
  • Elektronikbauteile
  • Polymere und Gummis
  • Pharmazeutische Formulierungen
  • Optische Komponenten
  • (Fein) mechanische Teile

Beschichtungen

  • Oberflächenanalyse
  • Beschichtungen
  • Tinte auf Papier

Untersuchung von Mehrschichtstrukturen

  • Verpackungsmaterialien
  • Polymerlaminate
  • Farb- und Lacksplitter

Identifikation von Fasern

  • Forensik
  • Textilien

Bestimmung der chemischen Zusammensetzung komplexer Proben

  • Biologische Gewebe
  • Tabletten

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